System inspekcji powierzchni odbiciowych do wykrywania i oznaczania defektów produkcyjnych
Zapytaj o produkt
reflectCONTROL Compact to system automatycznej inspekcji powierzchni, wykorzystujący metodę deflektometrii do wykrywania i oznaczania defektów produkcyjnych m.in. ekranów tabletów i smartfonów oraz zwierciadeł i soczewek teleskopów. Znajduje zastosowanie do inspekcji powierzchni przeźroczystych, lustrzanych i połyskliwych z tworzywa sztucznego, folii, szkła itp.
Jest to system zintegrowany, występujący w dwóch wersjach różniących się zakresem zastosowań. Wersja 2D identyfikuje defekty na powierzchni.
Wersja 3D, oferująca dodatkowo możliwość prowadzenia pomiarów z dokładnością na poziomie µm generuje chmurę punktów do zastosowań w programach do przetwarzania obrazu (rekonstrukcja 3D). Może znaleźć zastosowanie w laboratoriach i na liniach produkcyjnych.
Pozostałe cechy:
- maksymalna powierzchnia analizy 265 x 110 mm,
- sterowanie przez ekran dotykowy,
- regulowana wysokość nóg,
- możliwość całkowitego zaciemnienia obszaru pomiarowego dla wyeliminowania interferencji optycznych,
- interfejs Ethernet do integracji na liniach produkcyjnych,
- cyfrowe linie I/O umożliwiające zewnętrzne wyzwalanie pomiarów,
- porty USB do podłączenia klawiatury i myszy,
- port VGA do podłączenia wyświetlacza.
